发射率是指物体表面辐射出的能量与相同温度的黑体辐射能量的比率。黑体是一种理想化的辐射体，它吸收所有波长的辐射能量，没有能量的反射和透过，其表面的发射率为1。各种物质的发射率是由物体的本身材质所决定，相同的温度下，物质不同，向外辐射的能量也会不同。例如下图，我们可以看到，三个点同时是茶杯的表面，但由于表面的物质不同，辐射出的能量，用热像仪看到的温度指示有很大的差异。
红外发射率测量仪设备的核心部件是半球形的黑体，由于发射器涂有黑色涂层，因此具备近乎理想黑体的所有属性。发射器的工作温度为一百摄氏度，黑体外壳的其余部分与发射器热绝缘。因此在仪器运行过程中仅产生轻微热量。
红外发射率测量仪产品优势：
可在数秒钟内测量物体表面的热发射率。即使是特殊结构和曲面也可以直接测量，该设备自成一体，包含全部操作和电子元件，可测量和处理传感器信号和显示数据，以及控制黑体温度。
大屏幕LED显示设备的状态，测量结果和操作菜单，触摸屏面板确保所有功能轻松实现。
红外发射率测量仪主要由傅立叶红外光谱仪、计算机、黑体辐射源、样品加热系统、温度控制系统以及辅助光路系统组成。傅立叶红外光谱仪是该测量装置中的主要设备，其功能为测量入射红外辐射的光谱分布曲线:样品加热系统土要功能为，在温度控制器的控制下,将样品的温度控制在所需的温度:黑体提供标准辐射源:辅助光路系统的t要功能是.将样品或黑体的辐射引入傅立叶红外光谱仪。虚线框内为光谱仪内部简略示意图，计算机负责采集探测器信号，开利用傅立叶变换原理完成干涉图(时域)到光谱图(频域)的转换，最后得到样品或黑体红外辐射的光谱曲线，同时可完成曲线相除、积分运算等功能。
