一、直接法：
量热法：
· 原理： 直接基于发射率的定义进行测量。将样品加热到一个特定温度，通过测量其维持该温度所需的功率（热损失），直接计算出发射率。这是最基础、最准确的方法之一，常被视为基准方法。
· 特点： 测量准确度高，但设备复杂，测量周期非常长（数小时），对实验环境要求很告，通常仅用于计量院所的基础研究和标准物质定标。
二、间接法：
1、辐射计法 / 反射法：
· 原理： 根据基尔霍夫热辐射定律，在不透明（或已知透射率）的材料中，在热红外波段的发射率 ε = 1 - ρ（反射率）。因此，通过测量样品在特定波长范围内的半球反射率或方向-半球反射率，即可间接得到其发射率。
· 特点： 这是目前主流的快速测量方法。TIR100-2采用的就是这种方法。
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2、光谱法：
· 原理： 使用傅里叶变换红外光谱仪测量样品的光谱反射率，再通过计算得到光谱发射率。可以进一步积分得到特定波段或全波段的发射率。
· 特点： 能获得连续的光谱信息，功能强大，但设备昂贵、操作复杂，需要专业知识和数据处理，通常用于实验室的深度材料分析。
3、参考样件法：
· 原理： 将样品和已知发射率的参考样件在相同条件下加热到相同温度，然后通过红外热像仪或辐射测温仪比较它们的热辐射强度，从而推算未知样品的发射率。
· 特点： 方法简单，但精度受参考样件、温度均匀性、环境干扰等多种因素影响，精度相对较低。
